供应差热分析仪详细介绍

                             差热分析仪

                          型号（HCCR-3000）

一、差热分析仪相关简介：

差热分析（DTA）是在程序控制温度下，测量物质和参比的温度差和温度关系的一种技术。当试样发生任何物理或化学变化时，所释放或吸收的热量使试样温度高于或低于参比物的温度，从而相应地在差热区线上可得到放热或吸热峰。差热曲线（DTA）是由差热分析得到的记录曲线。曲线的纵坐标为试样与参比物的温度差（△T），向上表示放热反应，向下表示吸热反应。差热分析也可以测定试样的热容变化，它在差热线上发映出基线的偏离。

二、差热分析仪技术指标

1.温度范围: 室温~1000℃  
2.量程范围: 0～±2000μV  
3.DTA精度: ±0.1μV  
4.升温速率: 1～80℃/min  
5.温度分辨率: 0.1℃  
6.温度准确度: ±0.1℃  
7.温度重复性: ±0.1℃  
8.温度控制: 升温：程序控制        可根据需要进行参数的调整
            降温：风冷程序控制    可选配半导体冷却系统、液氮冷却系统等
            恒温：程序控制        恒温时间任意设定
9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作
10.气氛控制: （选配）气体流量计，气氛转换装置
11.数据接口: RS-232串口通讯  配套数据线和操作软件
12.主机显示: 汉字大屏液晶显示蓝底白字
13.参数标准: 配有标准物,用户可自行对温度进行校正
14.基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
15.工作电源: AC 220V  50Hz

三、相关产品有：

表面电阻测测定仪，

体积电阻率测定仪

介电常数测试仪

介质损耗测试仪

介电强度试验机

冲击电穿试验机

耐电弧试验机

公司名称：北京华测试验仪器有限公司

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